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CSK-IA各类探伤仪试块的详细资料

CSK-IA探伤仪试块是由IIW试块的基础上改进而来的

主要用途有:

1、利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;

2、利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;

3、利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;

4、利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;

5、利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;

6、利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;

7、利用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分辨力。

制作满足3NB/T 47013-2015要求试块以及中华人民共和国铁道部规定探伤试块可以根据要求特出定做,并配有检定证书。

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